A、7000埃
B、250KV
C、3650埃
D、100英尺燭光

A、判定合格
B、判定不合格
C、需將整個(gè)檢測(cè)過(guò)程重做一次
D、以上都不對(duì)

A.晶界缺陷
B.表面開(kāi)口缺陷
C.表面下的缺陷
D.以上都可以發(fā)現(xiàn)

A.為了顯示細(xì)小裂紋，顯像劑層應(yīng)厚些
B.多余的顯像劑層應(yīng)用壓縮空氣去除
C.干顯像劑比非水濕顯像劑對(duì)比度好
D.為了顯示細(xì)小裂紋，薄顯像劑層比厚顯像劑層好

A.不宜用于粗糙試件表面缺陷的檢驗(yàn)
B.閃點(diǎn)較低
C.不宜用于大批量試件檢驗(yàn)
D.以上都對(duì)