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電子束穿透固體樣品的能力,主要取決于電壓V和樣品物質(zhì)的原子序數(shù)Z。一般V (),Z (),電子束可以穿透的樣品厚度越大。
A.越低,越低
B.越低,越高
C.越高,越高
D.越高,越低
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判斷題
掃描電鏡的景深比一般光學(xué)顯微鏡景深大100-500倍,比透射電子顯微鏡的景深大10倍。
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掃描電子顯微鏡具有大的景深,所以它可以用來進行斷口形貌的分析觀察。
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