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判斷題

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

答案：正確

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利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

答案：正確

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

答案：正確

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