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多項(xiàng)選擇題

測(cè)試篩選：指定測(cè)試僅在物理設(shè)備而不在模擬器上運(yùn)行|：禁止在低于給定級(jí)別的AndroidAPI級(jí)別上運(yùn)行測(cè)試?yán)纾珸SdkSupress（minSdkVersion=18）|@SmallTest、@MediumTest和@LargeTest：指定測(cè)試的運(yùn)行時(shí)長(zhǎng)以及運(yùn)行頻|錯(cuò)誤的是（）。

A.@RequiresDevice/@SdkSupress
B.@RequiresDevce/@SdkSupress
C.@RequiresDevice/@SdkSupres
D.@RequiresDevices/@SdkSupress

多項(xiàng)選擇題

參數(shù)化測(cè)試：對(duì)于一個(gè)方法需要進(jìn)行多種場(chǎng)景進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可以通過(guò)參數(shù)化測(cè)試減少測(cè)試的工作量。使用步驟：RunWith（Parameterized.class）（）。

A.更改測(cè)試運(yùn)行器
B.聲明變量用來(lái)存放預(yù)期值與結(jié)果值
C.聲明一個(gè)返回值為Collection的公共靜態(tài)方法，并使用@Parameters進(jìn)行修飾
D.位測(cè)試類聲明一個(gè)帶有參數(shù)的公共構(gòu)造方法，并在其中為聲明變量賦值

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參數(shù)化測(cè)試：對(duì)于一個(gè)方法需要進(jìn)行多種場(chǎng)景進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可以通過(guò)參數(shù)化測(cè)試減少測(cè)試的工作量。使用步驟：RunWith（Parameterized.class）（）。

參數(shù)化測(cè)試：對(duì)于一個(gè)方法需要進(jìn)行多種場(chǎng)景進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可以通過(guò)參數(shù)化測(cè)試減少測(cè)試的工作量。使用步驟：RunWith（Parameterized.class）（）。