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判斷題

磁粉探傷方法只能探測(cè)開(kāi)口于試件表面的缺陷，而不能探測(cè)近表面缺陷。

答案：錯(cuò)誤

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磁粉探傷時(shí)，磁感應(yīng)強(qiáng)度方向和缺陷方向越是近于垂直，就越是易于發(fā)現(xiàn)缺陷。

答案：正確

磁粉探傷時(shí)，磁感應(yīng)強(qiáng)度方向和缺陷方向越是近于平行，就越是易于發(fā)現(xiàn)缺陷。

答案：錯(cuò)誤

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