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問答題
【簡答題】例舉并描述硅片揀選測試中的三種典型電學(xué)測試（第十九章）
答案：
硅片揀選測試中的三種典型電學(xué)測試：
（1）DC測試：第一電學(xué)測試是確保探針和壓焊點(diǎn)之間良好電學(xué)接觸的連接性檢查...
（1）DC測試：第一電學(xué)測試是確保探針和壓焊點(diǎn)之間良好電學(xué)接觸的連接性檢查...
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問答題
【簡答題】例舉在線參數(shù)測試的4個主要子系統(tǒng)。
答案：
在線參數(shù)測試的4個主要子系統(tǒng)為：
（1）探針卡接口：是自動測試儀與待測器件之間的接口。
（2）硅片定...
（1）探針卡接口：是自動測試儀與待測器件之間的接口。
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問答題
【簡答題】什么是IC可靠性？什么是老化測試？
答案：
IC可靠性是指器件在其預(yù)期壽命內(nèi)，在其使用環(huán)境中正常工作的概率，換句話說就是集成電路能正常使用多長時間。老化測試在很苛刻...
