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判斷題

AFM通常用來觀測樣品表面形貌。

答案：正確

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TEM觀測與SEM相同，對(duì)樣品厚度沒有要求。

答案：錯(cuò)誤

通常利用TEM觀測的分辨率高于SEM。

答案：正確

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