多項(xiàng)選擇題

在晶體管內(nèi)基片上有一個(gè)裂縫，可以導(dǎo)致集電極到發(fā)射極開路，在這里（）

A.“集電極到發(fā)射極開路”是故障原因（機(jī)理）
B.“集電極到發(fā)射極開路”是故障模式
C.“晶體管內(nèi)基片上有裂縫”是故障原因（機(jī)理）
D.“晶體管內(nèi)基片上有裂縫”是故障模式

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可靠性預(yù)計(jì)的目的和用途主要是（）

A.評(píng)價(jià)是否能夠達(dá)到要求的可靠性指標(biāo)
B.在方案論證階段，比較不同方案的可靠性水平，為最優(yōu)方案的選擇及優(yōu)化提供依據(jù)
C.在設(shè)計(jì)中，發(fā)現(xiàn)影響可靠性的主要因素，找出薄弱環(huán)節(jié)，采取措施，提高系統(tǒng)可靠性
D.為可靠性分配奠定基礎(chǔ)

多項(xiàng)選擇題

任務(wù)可靠性預(yù)計(jì)與產(chǎn)品的（）等直接相關(guān)。

A.壽命剖面
B.任務(wù)剖面
C.工作時(shí)間
D.功能特性

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在晶體管內(nèi)基片上有一個(gè)裂縫，可以導(dǎo)致集電極到發(fā)射極開路，在這里（）

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可靠性預(yù)計(jì)的目的和用途主要是（）

任務(wù)可靠性預(yù)計(jì)與產(chǎn)品的（）等直接相關(guān)。

在晶體管內(nèi)基片上有一個(gè)裂縫，可以導(dǎo)致集電極到發(fā)射極開路，在這里（）