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填空題

探測(cè)面曲率愈大，宜用芯片尺寸（）的探頭，它可使透入試件的聲能損耗減小。

答案：小

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磁粉探傷時(shí)缺陷處產(chǎn)生的漏磁通與通過工件的（）有關(guān)，與缺陷的（）和（）有關(guān)。

答案：電流；大??；位置

芯片較大的探頭近場(chǎng)覆蓋面積（）遠(yuǎn)場(chǎng)覆蓋面積（）。

答案：大；小

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