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OTDR采用背向散射測試技術(shù),能夠測試整個光纖鏈路的衰減,并能提供和長度有關(guān)的衰減細(xì)節(jié)。
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OTDR同時可測試接頭損耗及故障點。它具有非破壞性且只需在一端測試的優(yōu)點。
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1550波長測試距離更遠(yuǎn),1550nm比 1310nm光纖對彎曲更敏感,1550nm比1310nm單位長度衰減更小、1310nm比1550nm測的熔接或連接器損耗更高。
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